檢索結果:共3筆資料 檢索策略: "技術".ckeyword (精準) and cadvisor.raw="林丁丙"
個人化服務 :
排序:
每頁筆數:
已勾選0筆資料
1
實際量測上,網路分析儀與待測物(Device Under Test)間,會需要治具連 接,為此勢必會產生不屬於原始待測物的特性,需要透過去嵌入技術來消除。 目前在校正與去嵌入有許多方法,比較主流的有…
2
目前在特性元件的量測中有兩種方式分別是:測試夾具法(Test Fixture Measurement)、晶圓級量測法(On-Wafer Measurement),使用測試夾具法時,會產生不屬於待測物…
3
本研究是用多層板實現第5代行動通訊(5G)之毫米波天線,其工作頻段分別為24GHz到28GHz,以及37GHz到43.5GHz。進入5G後其工作頻率大幅提升,由於高頻率的電磁波在空氣傳播時,其路徑損…